Патенты с меткой «сфокусированного»
Способ и устройство анализа материалов с помощью сфокусированного пучка электронов с использованием характеристического рентгеновского излучения и обратноотраженных электронов
Номер патента: 21273
Опубликовано: 29.05.2015
Авторы: Мотль Давид, Филип Войтех, Докулилова Сильвиэ
МПК: G01N 23/22
Метки: рентгеновского, способ, электронов, анализа, пучка, характеристического, обратноотраженных, помощью, излучения, материалов, использованием, сфокусированного, устройство
Формула / Реферат:
1. Способ анализа материалов с помощью сфокусированного электронного пучка при использовании характеристического рентгеновского излучения и обратноотраженных электронов, где сначала при экспертной оценке формируют достаточно большой набор Р химических элементов, которые могут присутствовать в исследуемом образце, и для каждого элемента pi из набора Р определяют интервал Ii энергии рентгеновских фотонов в соответствии с одной эмиссионной линией...