Способ атомно-абсорбционных измерений

Изобретение относится к области атомно-абсорбционной спектрофотометрии и предназначено для использования в атомно-абсорбционном анализе и спектральном приборостроении. Задачей изобретения является повышение точности измерений в условиях действия неселективного поглощения. Поставленная задача достигается тем, что в способе атомно-абсорбционных измерений, при котором попеременно пропускают через атомный пар рабочей пробы излучение от источников сплошного и линейчатого спектров для измерения оптической плотности атомного пара. При этом предварительно в атомизатор вводят пробы с различными концентрациями вещества, обеспечивающего возникновение неселективного поглощения и определяют оптическую плотность неселективного поглощения Dns каждой пробы из выражения где Jodds - интенсивность излучения источника сплошного спектра до атомизатора;Jdds - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора, и некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения Ddif каждой пробы из выражения где Jdds - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора;Jlpk - интенсивность излучения источника линейчатого спектра после атомизатора, повторяют измерения для получения зависимости Ddif=F(Dns), определяют Dns рабочей пробы и по упомянутой зависимости - Ddif рабочей пробы, значение которой используют для коррекции результата измерения оптической плотности атомного пара рабочей пробы.(71)(73) Заявитель и патентовладелец: КОНСТРУКТОРСКОТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ РЕСПУБЛИКАНСКОЕ УНИТАРНОЕ ПРЕДПРИЯТИЕ "НУКЛОН" (BY) Изобретение относится к области атомно-абсорбционной спектрофотометрии и предназначено для использования в атомно-абсорбционном анализе и спектральном приборостроении. Известен способ атомно-абсорбционных измерений, который характеризуется тем, что излучение источника линейчатого спектра попеременно пропускают через атомный пар, образующийся в атомизаторе и через опорный оптический канал [1]. Известен способ атомно-абсорбционных измерений, выбранный в качестве прототипа, включающий попеременное пропускание через атомный пар излучения источника сплошного спектра и рабочем определении оптической плотности атомного пара [2]. Полученные данные далее используют для расчета концентрации определяемого элемента. Принципиальным недостатком способов является низкая точность измерений, поскольку точно совместить изображение источников излучений в плоскости атомизации нельзя из-за конструктивных особенностей источников излучения и осветительной системы, используемой для данных целей. Этот недостаток характерен при применении дополнительного источника излучения сплошного спектра с целью коррекции неселективного поглощения. Вследствие этого результат рабочего определения оптической плотности атомного пара характеризуется составляющей некомпенсированного значения оптической плотности неселективного поглощенияDdif и рабочей оптической плотностью определяемых атомов Dwork, что снижает точность измерений. Задачей настоящего изобретения является повышение точности измерений в условиях действия неселективного поглощения. Поставленная задача достигается тем, что в способе атомно-абсорбционных измерений, при котором попеременно пропускают через атомный пар рабочей пробы излучение от источников сплошного и линейчатого спектров для измерения оптической плотности атомного пара. При этом предварительно в атомизатор вводят пробы с различными концентрациями вещества, обеспечивающего возникновение неселективного поглощения, и определяют оптическую плотность неселективного поглощения Dns каждой пробы из выражения где Jodds - интенсивность излучения источника сплошного спектра до атомизатора;Jdds - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора,и некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения Ddif каждой пробы из выражения где Jdds - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора;Jlpk - интенсивность излучения источника линейчатого спектра после атомизатора,повторяют измерения для получения зависимости Ddif=F(Dns), определяют Dns рабочей пробы и по упомянутой зависимости - Ddif рабочей пробы, значение которой используют для коррекции результата измерения оптической плотности атомного пара рабочей пробы. Такие измерения делают с разными значениями оптической плотности неселективного поглощения,получая, таким образом, зависимость Ddif=F(Dns). Например, можно измерить оптическую плотность неселективного поглощения Dns в диапазоне 0,001-0,01-0,1-1 Б и получить некомпенсированные значенияDdif для указанного диапазона. Зависимость Ddif=F(Dns) далее используют для коррекции результата измерения при проведении рабочих измерений. Эту зависимость можно аппроксимировать, например, по методу наименьших квадратов и получить, таким образом, промежуточные значения меры коррекцииDdif и Dns. Указанный способ реализует атомно-абсорбционный спектрофотометр, схема которого приведена на чертеже фигуры. Спектрофотометр содержит оптически связанные источники излучения сплошного 1 и линейчатого спектра 2, осветительную систему 3, атомизатор 4, монохроматор 5, фотоприемник 6 и устройство измерения 7, которое выполнено на основе персонального компьютера, сопряженного с аналого-цифровым преобразователем 8. Способ реализуется следующим образом. После проведения калибровки прибора путем измерения нескольких стандартных растворов в атомизатор 4 подают несколько проб с разными концентрациями NaCl, что вызывает появление неселективного поглощения в атомизаторе. Устройство измерения работает в соответствии с формулами (2) и (3) и запоминает полученные значения Ddif=F(Dns). Теперь в атомизатор 4 подают рабочие пробы и измеряют D по формуле (1) и Dns по формуле (2). В соответствии со значением Dns выбирают значение Ddif и вычитают его из результата, полученного по формуле (1). Следовательно, в результате измерения рабочей пробы будет скорректировано некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения. Результат измерения оптической плотности рабочих проб будет при этом точнее, что и обеспечивает наличие положительного эффекта. Таким образом, заявляемая совокупность признаков не является известной из существующего уровня техники, не следует очевидным образом для специалиста в этой области, дает новый положительный результат и технически осуществима. Источники информации 1. Атомно-абсорбционный спектрофотометр novAA-400. Техническое руководство по эксплуатации. 2005 г. 2. К.П. Курейчик. Импульсная атомная спектрофотометрия. Методы измерений. Аппаратура. - Мн. Университетское, 1989, с. 77 (прототип). ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ Способ атомно-абсорбционных измерений, при котором попеременно пропускают через атомный пар рабочей пробы излучение от источников сплошного и линейчатого спектров для измерения оптической плотности атомного пара, отличающийся тем, что предварительно в атомизатор вводят пробы с различными концентрациями вещества, обеспечивающего возникновение неселективного поглощения, и определяют оптическую плотность неселективного поглощения Dns каждой пробы из выражения где Jodds - интенсивность излучения источника сплошного спектра до атомизатора;Jdds - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора,и некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения Ddif каждой пробы из выражения где Jdds - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора;Jlpk - интенсивность излучения источника линейчатого спектра после атомизатора,повторяют измерения для получения зависимости Ddif=F(Dns), определяют Dns рабочей пробы и по упомянутой зависимости - Ddif рабочей пробы, значение которой используют для коррекции результата измерения оптической плотности атомного пара рабочей пробы.