Шен Йибинг
Система, способ и покрытие для исследования деформаций
Номер патента: 9014
Опубликовано: 26.10.2007
Авторы: Бреннан Энтони Б., Хабнер Джеймс, Ифдзу Питер, Дженкинс Дэвид, Эл-Ратал Виссам, Шен Йибинг, Хе Лиу, Ванг Йингшенг, Кэрролл Брюс, Шанце Кирк С.
МПК: G01B 11/16, G01L 1/24
Метки: деформаций, исследования, система, способ, покрытие
Формула / Реферат:
1. Способ измерения деформации материала основы при образовании на ней трещин, включающий этапы, на которых наносят люминесцентное покрытие на материал основы, отверждают нанесенное покрытие, освещают люминесцентное покрытие возбуждающим освещением и измеряют одну или несколько характеристик люминесцентного излучения, исходящего от люминесцентного покрытия, отличающийся тем, что на первом этапе измерения устанавливают количественное...