Хе Лиу
Система, способ и покрытие для исследования деформаций
Номер патента: 9014
Опубликовано: 26.10.2007
Авторы: Кэрролл Брюс, Хабнер Джеймс, Дженкинс Дэвид, Ванг Йингшенг, Хе Лиу, Ифдзу Питер, Бреннан Энтони Б., Шанце Кирк С., Эл-Ратал Виссам, Шен Йибинг
МПК: G01B 11/16, G01L 1/24
Метки: покрытие, система, деформаций, способ, исследования
Формула / Реферат:
1. Способ измерения деформации материала основы при образовании на ней трещин, включающий этапы, на которых наносят люминесцентное покрытие на материал основы, отверждают нанесенное покрытие, освещают люминесцентное покрытие возбуждающим освещением и измеряют одну или несколько характеристик люминесцентного излучения, исходящего от люминесцентного покрытия, отличающийся тем, что на первом этапе измерения устанавливают количественное...