Шанце Кирк С.
Система, способ и покрытие для исследования деформаций
Номер патента: 9014
Опубликовано: 26.10.2007
Авторы: Бреннан Энтони Б., Хе Лиу, Ванг Йингшенг, Дженкинс Дэвид, Шанце Кирк С., Хабнер Джеймс, Эл-Ратал Виссам, Ифдзу Питер, Шен Йибинг, Кэрролл Брюс
МПК: G01L 1/24, G01B 11/16
Метки: способ, исследования, деформаций, система, покрытие
Формула / Реферат:
1. Способ измерения деформации материала основы при образовании на ней трещин, включающий этапы, на которых наносят люминесцентное покрытие на материал основы, отверждают нанесенное покрытие, освещают люминесцентное покрытие возбуждающим освещением и измеряют одну или несколько характеристик люминесцентного излучения, исходящего от люминесцентного покрытия, отличающийся тем, что на первом этапе измерения устанавливают количественное...