Томсон Алаздэр Айан
Способ оптического анализа образца
Номер патента: 18131
Опубликовано: 30.05.2013
Автор: Томсон Алаздэр Айан
МПК: G01N 21/35, G01N 21/03
Метки: образца, оптического, анализа, способ
Формула / Реферат:
1. Способ оптического анализа образца, в котором направляют электромагнитное излучение (ЭМИ) одной или более частот через образец на частично отражающую поверхность, которая пропускает и одновременно отражает направленное на нее ЭМИ, причем отраженное ЭМИ направляется обратно через образец так, что длина пути сквозь образец различна для прошедшего ЭМИ и отраженного ЭМИ, и как прошедшее ЭМИ, так и отраженное ЭМИ регистрируют одним или более...