Моисеев Олег Юрьевич
Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов
Номер патента: 24759
Опубликовано: 31.10.2016
Авторы: Моисеев Олег Юрьевич, Казанский Николай Львович, Скиданов Роман Васильевич
Метки: решетки, изображающий, гиперспектрометр, высотой, дифракционной, переменной, основе, штрихов
Формула / Реферат:
Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки, состоящий из оптического элемента, объектива, ПЗС матрицы, цифрового вычислительного блока, отличающийся тем, что оптический элемент выполнен в виде дифракционной решетки с изменяющейся высотой штрихов, при этом высота штрихов решетки изменяетсяот значениядо значениягде h1 - высота штрихов с левой стороны дифракционной решетки,h2 - высота штрихов с правой стороны дифракционной...