G02B 5/18 — дифракционные решетки

Номер патента: 24777

Опубликовано: 31.10.2016

Авторы: Харитонов Сергей Иванович, Казанский Николай Львович, Скиданов Роман Васильевич

МПК: G02B 5/18, G01J 3/24

Метки: изображающий, гиперспектрометр

Формула / Реферат:

Изображающий гиперспектрометр, состоящий из узкой щели, расположенной в передней фокальной плоскости объектива, дифракционной решетки, второго объектива, строящего изображение спектра на ПЗС матрице, отличающийся тем, что щель выполнена в виде полукольца, расположенного вдоль радиальной полярной координаты входного зрачка, дифракционная решетка выполнена со штрихами, изогнутыми в...

Номер патента: 24759

Опубликовано: 31.10.2016

Авторы: Моисеев Олег Юрьевич, Скиданов Роман Васильевич, Казанский Николай Львович

МПК: G01J 3/24, G02B 5/18

Метки: переменной, решетки, гиперспектрометр, изображающий, основе, высотой, штрихов, дифракционной

Формула / Реферат:

Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки, состоящий из оптического элемента, объектива, ПЗС матрицы, цифрового вычислительного блока, отличающийся тем, что оптический элемент выполнен в виде дифракционной решетки с изменяющейся высотой штрихов, при этом высота штрихов решетки изменяетсяот значениядо значениягде h1 - высота штрихов с левой стороны дифракционной решетки,h2 - высота штрихов с правой стороны дифракционной...

Номер патента: 18164

Опубликовано: 30.05.2013

Авторы: Дурлевич Святослав Радомирович, Гончарский Антон Александрович, Гончарский Александр Владимирович

МПК: B44F 1/12, G02B 5/18, B42D 15/10...

Метки: формирования, микрооптическая, визуального, система, подлинности, изделий, контроля, изображений

Формула / Реферат:

1. Микрооптическая система формирования изображений для визуального контроля подлинности изделий на основе дифракционного оптического элемента, отличающаяся тем, что указанный элемент, расположенный в плоскости Оху, состоит из N элементарных областей, при этом каждая элементарная i-ая область i = 1, ... N характеризуется заданным цветом, видимым наблюдателю при нормальном положении микрооптической системы, в каждой i-ой элементарной области...

Номер патента: 17829

Опубликовано: 29.03.2013

Авторы: Дурлевич Святослав Радомирович, Гончарский Антон Александрович, Гончарский Александр Владимирович

МПК: G02B 5/18, B42D 15/10, B44F 1/12...

Метки: система, аутентичности, контроля, изделий, микрооптическая, визуального

Формула / Реферат:

1. Микрооптическая система для визуального контроля подлинности изделия на основе дифракционного оптического элемента, отличающаяся тем, что указанный элемент имеет элементарные области трех различных видов, которые образованы, вместе или по отдельности, плоскими фазовыми оптическими элементами двух типов с асимметричным микрорельефом, обеспечивающим асимметричную диаграмму направленности рассеянного излучения, при этом элементарные области...

Номер патента: 7874

Опубликовано: 27.02.2007

Авторы: Кутанов Аскар Асанбекович, Полещук Александр Григорьевич, Бесмельцев Виктор Павлович, Снимщиков Игорь Алексеевич

МПК: G02B 5/18

Метки: элементов, записи, дифракционных, устройство

Формула / Реферат:

1. Устройство для записи дифракционных элементов, содержащее оптически связанные источник света, узел отклонения пучка света, первую линзу, включающий в себя первую призму, узел разделения пучка света, фокусирующий объектив, регистрирующую среду, привод перемещения регистрирующей среды и узел управления, электрически связанный с источником света, узлом отклонения пучка света, приводом перемещения регистрирующей среды, отличающееся тем, что узел...