Лю Чих-Пинг
Способ количественной оценки и снижения вызванного наклоном азимутального изменения амплитуды отражения от удаления
Номер патента: 11314
Опубликовано: 27.02.2009
Авторы: Донг Вендзи, Лю Чих-Пинг
МПК: G01V 1/00
Метки: способ, изменения, наклоном, количественной, снижения, амплитуды, отражения, оценки, удаления, вызванного, азимутального
Формула / Реферат:
1. Способ компенсации вызванных наклоном погрешностей в атрибутах зависимости амплитуды отражения от удаления или в атрибутах азимутальной зависимости амплитуды отражения от удаления, извлекаемых из объема трехмерных сейсмических данных, получаемых в результате сейсмического исследования наклонного коллектора, лежащего под изотропной покрывающей породой, содержащий этапы, при выполнении которых: (a) учитывают азимутальную зависимость расхождения...