Донг Вендзи
Способ количественной оценки и снижения вызванного наклоном азимутального изменения амплитуды отражения от удаления
Номер патента: 11314
Опубликовано: 27.02.2009
Авторы: Донг Вендзи, Лю Чих-Пинг
МПК: G01V 1/00
Метки: наклоном, азимутального, амплитуды, оценки, способ, отражения, снижения, изменения, вызванного, количественной, удаления
Формула / Реферат:
1. Способ компенсации вызванных наклоном погрешностей в атрибутах зависимости амплитуды отражения от удаления или в атрибутах азимутальной зависимости амплитуды отражения от удаления, извлекаемых из объема трехмерных сейсмических данных, получаемых в результате сейсмического исследования наклонного коллектора, лежащего под изотропной покрывающей породой, содержащий этапы, при выполнении которых: (a) учитывают азимутальную зависимость расхождения...