G01N 21/45 — с помощью методов, основанных на интерференции волн; с помощью шлирного метода
Способ определения температуропроводности твердых тел и устройство для его реализации
Номер патента: 17906
Опубликовано: 30.04.2013
Авторы: Киселев Иван Георгиевич, Ивакин Евгений Васильевич
МПК: G01N 21/45, G01N 25/18
Метки: твердых, определения, устройство, способ, тел, реализации, температуропроводности
Формула / Реферат:
1. Способ для определения температуропроводности твердых тел, заключающийся в том, что в образце твердотельного материала за счет тепловыделения возбуждают тепловую динамическую решетку путем облучения двумя когерентными пучками света от импульсного лазера, направленными под заданным углом друг к другу и формирующими интерференционную картину в виде чередующихся светлых и темных полос, зондируют пятно возбуждения пучком света от непрерывного...
Противомикробные покрытия с индикаторными свойствами и перевязочные материалы для ран
Номер патента: 2284
Опубликовано: 28.02.2002
Авторы: Прехт Родерик Джон, Беррел Роберт Эдвард
МПК: A61L 15/18, A01N 59/16, A61F 13/00...
Метки: покрытия, индикаторными, перевязочные, противомикробные, свойствами, ран, материалы
Формула / Реферат:
1. Многослойный противомикробный материал, содержащий нижний слой из частично отражающего материала, способного вызвать появление интерференционной окраски, когда он покрыт частично отражающим, частично пропускающим свет верхним слоем; верхний слой, сформированный на указанном нижнем слое, причем указанный верхний слой представляет собой частично отражающую, частично пропускающую свет тонкую пленку, содержащую, по меньшей мере, один...
Устройство для определения показателя преломления и толщины
Номер патента: 367
Опубликовано: 24.06.1999
Авторы: Александров Сергей Алексеевич, Черных Игорь Валентинович
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45
Метки: преломления, толщины, показателя, устройство, определения
Формула / Реферат:
1. Устройство для определения показателя преломления и толщины, содержащее последовательно расположенные источник монохроматического излучения, светоделитель, устройство поворота исследуемого образца, автоколлимационное зеркало и систему анализа интерференционной картины, отличающееся чем, что на пути отраженного от светоделителя луча установлен отражательный элемент, отражающая поверхность которого параллельна отражающей поверхности...