G01N 23/20 — с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
Способ определения внутренней структуры объектов и устройство
Номер патента: 15236
Опубликовано: 30.06.2011
Автор: Намиот Владимир Абрамович
МПК: G01N 23/20
Метки: структуры, внутренней, определения, устройство, объектов, способ
Формула / Реферат:
1. Устройство для определения внутренней структуры объектов на основе автоголографического рентгеноструктурного анализа, включающее основание для размещения:группы монокристаллов, составленной из прилегающих друг к другу монокристаллов;экрана, расположенного в одной плоскости с монокристаллом, находящимся в центре группы, составленной из прилегающих друг к другу монокристаллов, и состоящего из двух тонких слоев, слабо поглощающих рентгеновское...
Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов и портативный рентгеновский дифрактометр для его осуществления
Номер патента: 345
Опубликовано: 29.04.1999
Авторы: Лютцау Александр Всеволодович, Котелкин Александр Викторович, Брейгин Виктор Давидович, Маклашевский Виктор Яковлевич, Агеев Олег Иванович, Лютцау Всеволод Григорьевич, Звонков Александр Дмитриевич, Матвеев Дмитрий Борисович
МПК: G01N 23/20
Метки: портативный, материалов, определения, напряженно-деформированного, рентгеновский, кристаллических, осуществления, способ, крупногабаритных, дифрактометр, состояния, изделий
Формула / Реферат:
1. Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов, заключающийся в размещении рентгеновского дифрактометра и исследуемого объекта один относительно другого, фокусировки с обеспечением заданных расстояний "фокус - объект", "объект - детектор", облучении его рентгеновским излучением от двух источников, регистрации распределения в пространстве интенсивности...