B82Y 35/00 — Способы или устройства для измерения или анализа нано-структур
Способ оценки кинетики образования наноразмерных пленок и их оптических характеристик
Номер патента: 23105
Опубликовано: 29.04.2016
Авторы: Федотов Юрий Викторович, Городничев Виктор Александрович, Калашников Евгений Валентинович, Башков Валерий Михайлович, Михалев Павел Андреевич
МПК: G01N 21/59, B82Y 35/00
Метки: образования, пленок, наноразмерных, оптических, оценки, кинетики, характеристик, способ
Формула / Реферат:
Способ оценки кинетики образования наноразмерных пленок и изменения их оптических характеристик, заключающийся в термовакуумном воздействии при определенной температуре на образцы материалов, помещенные в вакуумную камеру, и в улавливании выделившихся из образцов легко конденсирующихся веществ на конденсирующих пластинах, потерю массы определяют по разности масс образца до и после воздействия, таким же образом определяют и содержание летучих...