Патенты с меткой «наклономера»
Система и способ для объединенного микросейсмического анализа и анализа наклономера
Номер патента: 10524
Опубликовано: 30.10.2008
Авторы: Гриффин Ларри, Уорд Джеймс, Фишер Кевин, Ворпински Норман, Кинг Джордж, Райт Крис, Сэмсон Этьенн, Дэвис Эрик
МПК: G01V 1/02, G01V 1/16, G01V 1/46...
Метки: система, анализа, наклономера, способ, микросейсмического, объединенного
Формула / Реферат:
1. Система для текущего контроля геофизического процесса, которая содержит матрицу датчиков, расположенную внутри ствола скважины, причем матрица датчиков имеет по меньшей мере один датчик наклона и по меньшей мере один микросейсмический датчик; передатчик, имеющий связь по меньшей мере с одним датчиком наклона и по меньшей мере с одним микросейсмическим датчиком; и приемник, имеющий связь с передатчиком. 2. Система по п.1, в которой передатчик...